东森平台

  • <tr id='Ouname'><strong id='Ouname'></strong><small id='Ouname'></small><button id='Ouname'></button><li id='Ouname'><noscript id='Ouname'><big id='Ouname'></big><dt id='Ouname'></dt></noscript></li></tr><ol id='Ouname'><option id='Ouname'><table id='Ouname'><blockquote id='Ouname'><tbody id='Ouname'></tbody></blockquote></table></option></ol><u id='Ouname'></u><kbd id='Ouname'><kbd id='Ouname'></kbd></kbd>

    <code id='Ouname'><strong id='Ouname'></strong></code>

    <fieldset id='Ouname'></fieldset>
          <span id='Ouname'></span>

              <ins id='Ouname'></ins>
              <acronym id='Ouname'><em id='Ouname'></em><td id='Ouname'><div id='Ouname'></div></td></acronym><address id='Ouname'><big id='Ouname'><big id='Ouname'></big><legend id='Ouname'></legend></big></address>

              <i id='Ouname'><div id='Ouname'><ins id='Ouname'></ins></div></i>
              <i id='Ouname'></i>
            1. <dl id='Ouname'></dl>
              1. <blockquote id='Ouname'><q id='Ouname'><noscript id='Ouname'></noscript><dt id='Ouname'></dt></q></blockquote><noframes id='Ouname'><i id='Ouname'></i>
                400-850-4050

                先进材料表征方法

                 

                X射线能谱分析(EDS) 聚焦离子束分析(FIB) 俄歇电子能谱分析(AES) X射线光电子能谱它運氣不好咯分析(XPS)
                动态二次离子质谱分√析(D-SIMS) 飞行真消快點打起來时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)

                 

                表面元素●分析

                 

                背景

                近年来,随着电子设备线路〓设计日趋复杂,焊料无铅化的日益严格,促使化学镍金工艺的研究和应用越来越受到ξ重视并取得了新的发展。

                 

                作为各种元卐器件的载体与电路信号传输的枢纽,PCB已经成为电子信息产品的最为重要而关※键的部分,其质量的好坏与可靠性水平决定了整机设备的质量与可靠性。但是由于成本⌒ 以及技术的原因,PCB在生产和应用过程中出现了大量的失效问题。

                 

                对于这种失效问题,我们需要用到一些常用的失效分析技术,来使得PCB在制造的时候质量和可靠性水平得到一定的保证。

                 

                在PCB的分析上,能谱仪可用于表面的成分分析,可焊性不良的焊盘与引线脚表面污染物的元⊙素分析。能谱仪←的定量分析的准确度有限,低于0.1%的含∞量一般不易检出。能谱与SEM结合使用可以同时获得表面形貌与成分的信息,这是ζ 它们应用广泛的原因所在。


                应用范围:

                PCB、PCBA、FPC等。


                测试步骤:

                将样【品进行表面镀铂金后,放入扫描电子显微镜样品劍訣室中,使用15 kV的加速电压对测试位置进♂行放大观察,并用X射线能谱分析仪对样品进行○元素定性半定量分析。


                样品要求:

                非磁性或弱磁性,不易潮解且无︽挥发性的固态样品,小于8CM*8CM*2CM。


                参考标准:

                GB/T 17359-2012微束分析 能谱法定量〖分析


                典型图片:

                焊接面面扫描结果

                 

                点击咨询 获取检测方案

                 

                更多内容

                 



                • 联系我们
                • 深圳东森平台№总部

                  热线:400-850-4050

                  邮箱:marketing@mttlab.com

                   

                  苏州东森平台

                  热线:400-118-1002
                  传真:0512-6275 9253

                  邮箱:marketing@mttlab.com

                   

                  北京东森平台

                  热线:400-850-4050

                  邮箱:marketing@mttlab.com

                   

                  东莞东森平台

                  热线:400-116-1002

                  邮箱:marketing@mttlab.com

                   

                  广州东森平台

                  热线:400-850-4050

                  邮箱:marketing@mttlab.com

                   

                  珠海东森平台

                  热线:400-850-4050

                  邮箱:marketing@mttlab.com

                东森平台-第三方材料检测 版权所有 粤ICP备12047550号

                微信