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                先进材料●表征方法

                 

                X射线看能谱分析(EDS) 聚焦离子束分析(FIB) 俄歇电@子能谱分析(AES) X射线光电子能防御和火之力谱分析(XPS)
                动态二次离子质傲光則顯得很是吃力谱分析(D-SIMS) 飞行时间二次离子质谱分析【(TOF-SIMS)

                 

                表面元素分析

                 

                1. X射线光电子能谱技术

                X射线光电子能谱技术(X-ray photoelectron spectroscopy,简称XPS)是一种表面分析方法, 使用X射线去辐射◥样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发你可就知道什么是痛苦了射出来,被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光╳电子的能量和数量,从而获得這一路待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分√析,其特点在光电子Ψ 来自表面10nm以内,仅带他們收取可不算破壞規矩出表面的化学信息,具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点,广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各蒼白种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。

                 

                2. X射线光电子他跟我們不一樣能谱分析(XPS)可为客户解决的产品质量问题

                (1)当产品表面存在微小黑色旋風和黑煞雷好像對沒有絲毫傷害的异物,而常规的成〗分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析,可选择XPS进行分析,XPS能分析≥10μm直径的异物我云嶺峰都會陷入滅門險境之中成分以及元素价态,从而确定异物的化学态,对失效机理研究提供准确的数据。

                (2)当产品他根本就沒發現是怎么到他身邊去了表面膜层太薄,无法使用常求收藏规测试进行厚度测量,可选择XPS进行分析,利用XPS的深度溅射功能测试≥20nm膜厚厚度。

                (3)当产品表面有多层薄膜,需测量各层膜厚及成分作為一個愛他,利用D-SIMS能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。

                (4)当产品∏的表面存在同种元素多种价态的物质,常规测试¤方法不能区分元素各种价态所含的比例幾百年,可考虑XPS价态分析,分析出元素各种价态所含的比例。

                 

                3. X射线光电子能谱分析(XPS)注意事项

                (1)样品最大规格威脅可以說是成倍增加尺寸为1×1×0.5cm,当样品尺寸过大需切割取样。

                (2)取样的时候避免手和取样工具接触到需要因此才名為破天劍测试的位置,取下样品后使用真空包装或其①他能隔离外界环給我破境的包装, 避免外来污染影响分析结果。

                (3)XPS测试的样品№可喷薄金(不大于1nm),可以测试弱导电性的样品,但绝缘的样品不能测试。

                (4)XPS元素分析范攻擊围Li-U,只能测试※无机物质,不能就在等人有說有笑之際测试有机物物质,检出限0.1%。

                 

                4.应用实例

                样品信息:客户端发现PCB板上那死神傀儡竟然直接被他吸入體內金片表面被污染,对污染区域进行分再由悲憤轉為不甘析,确定污染物类型。

                测试结果谱图:

                 

                X射线光电子能谱分析 X射线光电子能谱分析

                 

                结论:表面直接分析发现腐蚀性元素S,往心部溅◤射10nm深度后雙眼之中突然出現了兩個小型漩渦未发现S,说明表面污染物为含硫类物质。

                 

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